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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)中采用四個(gè)光彈性調(diào)制器(PEM)，150XT Mueller偏振計(jì)可以在短時(shí)間內(nèi)同時(shí)測(cè)量所有十六個(gè)穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產(chǎn)品系列的這一新增功能可應(yīng)用于學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、光學(xué)元件特性、制造和質(zhì)量控制。 承包系統(tǒng)在各種光學(xué)、化學(xué)和生物化學(xué)樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲(或旋光)、線性二次衰減和圓形二次衰減。
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