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LID光熱偏轉技術弱吸收儀采用光熱偏轉技術，用于測量透明光學材料及鍍膜產品受到激光照射后產生的微弱吸收。在強激光照射下，材料內部由于吸收熱能產生折射率梯度現象（熱透鏡效應），當一束探測光經過“熱透鏡”效應區(qū)域時發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區(qū)域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉，并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。