美國Hinds Instruments

簡要描述：美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。

產(chǎn)品型號：Exicor-System
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-09-09
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　　概述：

　　美國Hinds Instruments的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。

　　Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是美國Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。

　　雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復(fù)性，并允許同時測量幅度和角度。

　　Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。

　　此設(shè)計減了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的重復(fù)性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

　　由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。

　　計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當(dāng)在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶確認(rèn)的格式即時顯示。

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